ja.info.tescan.com サイト解析まとめ

基本情報

サイトトップhttps://ja.info.tescan.com

HTMLサイズ

1ページ平均HTML(バイト)112027

内部リンク集計

リンク総数116

外部リンク集計

リンク総数132

メタ情報

meta description平均長65.85
OGPありページ数20
Twitterカードありページ数20

HTML言語 分布

キー割合
ja85.00%
en15.00%

文字コード 分布

キー割合
utf-8100.00%

内部リンク分析(Internal)

ユニーク内部リンク数116
ページあたり内部リンク平均32.3

内部リンク 深さヒストグラム

キー
038
153
2142
3354
459

内部リンク 上位URL

URLリンク総数
https://ja.info.tescan.com/semicon30
https://ja.info.tescan.com/?hsLang=en28
https://ja.info.tescan.com/semicon/products/amber-x-228
https://ja.info.tescan.com/semicon/products/solaris-228
https://ja.info.tescan.com/semicon/products/solaris-x-228
https://ja.info.tescan.com/semicon/products/tescan-tensor28
https://ja.info.tescan.com/semicon/products/large-volume-workflow28
https://ja.info.tescan.com/semicon/products/rocking-stage28
https://ja.info.tescan.com/semicon/applications/packaging28
https://ja.info.tescan.com/semicon/applications/low-angle-polishing28
https://ja.info.tescan.com/semicon/applications/automated-delayering28
https://ja.info.tescan.com/semicon/academy28
https://ja.info.tescan.com/semicon/insights28
https://ja.info.tescan.com/semicon/academy/tag/semiconductors19
https://ja.info.tescan.com/semicon/academy/tag/semiconductor-industry16
https://ja.info.tescan.com/10
https://ja.info.tescan.com/semicon/academy/fast-and-intuitive-material-characterization-with-precession-assisted-electron-diffraction9
https://ja.info.tescan.com/semicon/academy/discover-tescan-amber-x-2-for-delayering9
https://ja.info.tescan.com/semicon/academy/watch-the-tescan-deep-sectioning-webinar9
https://ja.info.tescan.com/semicon/academy/discover-how-to-prepare-tem-samples-from-logic-memory-and-3d-nand9

キーワード分析(KeywordMap)

ワードクラウド上位

重み
hbspt1
cta1
STEM0.923077
true0.882966
4D0.653846
semiconductor0.603641
you0.576923
analysis0.536086
device0.503034
relativeUrls0.5
useNewLoader0.5
region0.5
na10.5
without0.5
TENSOR0.461538
electron0.452731
load0.441483
processing0.423077
data0.409948
TIMA0.402427
mineral0.402427
Tescan0.402427
while0.402427
TESCAN0.401502
failure0.352124
properties0.352124
beam0.352124
FIB0.342112
micro0.315345
such0.307692
cross0.30182
time0.30182
measurements0.30182
users0.30182
optical0.30182
2024年10月17日0.28381
SEM0.273689
diffraction0.269231
large0.252276
devices0.251517
workflows0.251517
across0.230769
high0.230769
your0.230769
non0.230769
TEM0.230769
imaging0.230769
UniTOM0.220741
advanced0.220741
アプリケーションノート0.201214

共起語上位

語1語2スコア共起ページ数
ctahbspt4.281306104
4DSTEM3.59382873
na1region3.47727851
hbsptrelativeUrls3.46788265
ctarelativeUrls3.46788265
ctaload2.75990952
regionuseNewLoader2.74271439
hbspttrue2.72145270
FIBSEM2.67299438
regiontrue2.66176652
relativeUrlstrue2.64483252
trueuseNewLoader2.64483252
ctatrue2.60433967
benefitseconomic2.57054116
10時05分17秒2024年10月17日2.43851615
2024年10月17日9時56分38秒2.43851615
answerquestions2.37524812
Ourglobal2.34055912
globalteam2.34055912
defectshidden2.34055912
customersour2.34055912
crosssections2.33189616
realtime2.33189616
seconds高速2.27762712
13時29分37秒2024年11月19日2.19608410
2024年9月25日9時42分55秒2.1796679
2024年10月17日9時42分55秒2.15721812
2024年11月19日すべての投稿を日付で絞り込む2.1431411
na1true2.13784441
hbsptload2.10569939
opticalpreset2.09562614
answeravailable2.08371912
automatedmineralogy2.05126912
と半導体およびパッケージングの故障解析ソリューションに関するご質問には2.0354458
deviceintegrity2.03123816
analysisfailure2.01997524
Acquilaは複雑な撮影パスやダイナミックCT撮影を可能にします2.0191578
PantheraTMは複雑な撮影パスやダイナミックCT撮影を可能にします2.0191578
PantheraTMは大容量の3Dボリュームや4Dデータの再構成と可視化を行います2.0191578
大容量の3Dボリュームや4Dデータの再構成と可視化を行います特別なダイナミックCTツールにより2.0191578
何百ものデータセットの解析と視覚化を一目で行うことができます特別なダイナミックCTツールにより2.0191578
すべてのTESCANマイクロCTデータは何百ものデータセットの解析と視覚化を一目で行うことができます2.0191578
すべてのTESCANマイクロCTデータはサードパーティのソフトウェアパッケージと互換性が2.0191578
ありますサードパーティのソフトウェアパッケージと互換性が2.0191578
ありますアプリケーションノートのダウンロード2.0191578
アプリケーションノートのダウンロード羊の大腿骨の分析2.0191578
generationnext2.0191578
jointssolder2.0191578
RockingStage2.0191578
BGAsTSVs2.0191578

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